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德國徠卡LEICA顯微鏡
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電鏡制樣設(shè)備徠卡EM TXP 標靶面制備系統(tǒng)具有定點修塊拋光功能，是用鋸，磨，銑削，拋光樣品后，供掃描電鏡，透射電鏡，和LM技術(shù)檢測。 帶有一體化體視鏡，用于精確定位及對較細微難以觀察的目標位置進行樣品處理時觀察；使用樣品旋轉(zhuǎn)手柄，可以改變樣品觀察角度，0&#176;－60&#176;可調(diào)，或者垂直于樣品前表面90&#176;觀察，可利用目鏡刻度標尺測量距離。
